低温生长的Ge／Si超晶格界面结构的X射线散射研究-中国Betway体育网页登陆

摘要低温下用MBE方法生长了Ge／Si超晶格。X射线近边吸收限精细结构研究表明，Ge与Si再Ge／Si界面处存在化学混合。X射线反射及横向散射研究表明，Ge亚层上下表面的粗糙度呈反对称，下表面大的粗糙度来源于Ge向Si亚层中扩散形成SiGe混合组分结构：这种组分结构可以用一平均成份的SiGe合金层加以拟合，从而使得各亚层均有一个合理的粗糙度。旋转样品进行的X射线散射研究表明，这种SiGe的混合是各向同性的，这与透射电子显微镜的研究结构相一致。

1李志宏;巩雁军;吴东;孙予罕;王俊;柳义;董宝中.小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度.物理,2001-02.
2李志宏;柳义;等.用小角X射线散射法研究溶胶结构.核技术及应用,2000-01.
3罗光明;蒋海英;等.X射线导常散射研究NiFe／Cu多层膜结构.核技术及应用,1997-01.
4李志宏;王俊;等.小角X射线散射研究介孔分子筛结构.核技术及应用,2000-01.
5郑文莉;贾全杰;姜晓明;蒋最敏.Ge薄层异质结构的同步辐射X射线反射法研究.物理,2001-02.
6李志宏;吴东;孙予罕;赵辉;董宝中.小角X射线散射中的干涉效应.核技术及应用,2002-01.
7郭晓旭;董宝中;等.微晶硅薄膜小角X射线散射研究.核技术及应用,1997-01.
8崔树范;赵彤;等.BaTiO3／SrTiO3超晶格界面结构与光电性能关系研究.核技术及应用,1998-01.
9刘艳萍.散射线对X线照片质量的影响.公共卫生与预防医学,2007-05.
10赵辉;李志宏;吴忠华;董宝中.小角X射线散射实验数据的初步处理.核技术及应用,2002-01.

低温生长的Ge／Si超晶格界面结构的X射线散射研究

来源期刊

相关推荐

同分类资源更多

相关关键词