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小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

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摘要溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。

DOI 0dpn608942/2051621

作者李志宏;巩雁军;吴东;孙予罕;王俊;柳义;董宝中

机构地区不详

出处《北京同步辐射装置：英文版》 2001年2期

关键词小角X射线散射法溶胶测定平均界面厚度

分类 [理学][物理]

出版日期 2001年02月12日（中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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北京同步辐射装置：英文版

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