不同注量率质子辐照对CCD参数退化的影响分析

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    摘要 对一款CCD进行了3MeV质子辐照试验和退火试验,获得了2种注量率质子辐照下CCD参数的退化规律,分析了CCD产生缺陷与质子注量率之间的关系。研究表明:不同注量率质子辐照下,CCD中产生的位移损伤缺陷存在差异,但CCD的暗信号和电荷转移效率没有明显改变,且室温退火后,不同质子注量率辐照下,CCD受到的辐射损伤差异更小。研究结果可为揭示地面模拟实验中质子入射CCD产生缺陷的机制、影响因素及建立质子辐射效应损伤模型提供理论与试验方法的支撑。
    机构地区 不详
    出处 《现代应用物理》 2018年2期
    出版日期 2018年02月12日(中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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