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基于蒙特卡罗的电子产品可靠性分析

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摘要由于产品技术性能和结构要求等方面的提高，可靠性问题愈显突出，文章对电子元器件的可靠性进行了分析。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律，寿命测试分析方法采用威布尔型分析方法，根据极大似然估计的不变原则，统计出元件的平均寿命的极大似然估计，另外采用指数分布，属于伽玛分布和威布尔分布的特殊情况，统计产品的偶然失效。实验仿真给出了数据，其目的在于提高电子产品的可靠性。

DOI pd5xgm3g47/872895

作者郭水旺;胡乾坤

机构地区不详

出处《电子与封装》 2010年5期

关键词元器件可靠性理论分析

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2010年05月15日（中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）