首页 > 《单片机与嵌入式系统应用》 > 2010年2期 > 浅谈电子产品的硬件测试技术

浅谈电子产品的硬件测试技术

打印

在线阅读下载PDF 导出详情

摘要随着对产品质量的进一步要求，在产品研发阶段的投入比例已经向测试倾斜，许多国际知名企业中硬件测试人员的数量要远大于开发人员。本文阐述了硬件测试的一般流程以及硬件测试技术的种类，分析了硬件测试的级别。

DOI ojz0vg3yd5/834446

作者黄艳敏

机构地区不详

出处《单片机与嵌入式系统应用》 2010年2期

关键词硬件测试信号质量时序容限测试

分类 [自动化与计算机技术][计算机系统结构]

出版日期 2010年02月12日（中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

相关文献

1李海洋.论电子产品的硬件测试技术.文化科学,2018-12.
2王相昂.电子产品的硬件测试技术探索.建筑技术科学,2022-04.
3黄雨 ,曹兴冈 ,张杏.电子产品的硬件测试技术探索.,2023-01.
4黄雨 ,曹兴冈 ,张杏.电子产品的硬件测试技术探索.,2023-02.
5王雪 ,姜宇为.论电子产品的硬件测试技术.,2023-01.
6朱海舟.关于电子产品硬件测试技术的几点思考.文化科学,2018-12.
7林晓洁.关于电子产品硬件测试技术的几点思考.,2023-06.
8沈援海.刍议电子产品硬件测试技术研究与策略.,2022-08.
9强瀚方邓明超.电子产品硬件设计分析.,2022-07.
10黄雨 ,朱建平 ,曹兴冈.电子产品硬件设计分析.,2023-01.

来源期刊

单片机与嵌入式系统应用

相关推荐

同分类资源更多

相关关键词

硬件测试信号质量时序容限测试

返回顶部