脉冲功率多层瓷介电容失效模式研究-中国Betway体育网页登陆

摘要摘要:对某型号产品脉冲功率多层瓷介电容失效问题进行了原因分析，研究了其失效机理。结果表明：脉冲功率多层瓷介电容器的失效是因在无预热措施下在其焊盘相连的焊线孔焊接导线,使电容器受到过大的热应力，以致内部产生裂纹。在对脉冲功率多层瓷介电容或与其焊盘相连的其他位置进行焊接、返工操作时，应做好预热措施,可有效降低脉冲功率多层瓷介电容器的失效率。

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脉冲功率多层瓷介电容失效模式研究

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