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射线底片中的缺陷定量技术

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摘要底片是射线检测的评判依据，但是容易受到环境的影响而发生变化（发霉、污损）；生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化，可以实现无失真存储，稳定性高，更便于交流和分析，利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。

DOI zdl1971q4l/463716

作者孙朝明;徐彦霖;王增勇

机构地区不详

出处《中国工程物理研究院科技年报》 2004年1期

关键词射线底片定量技术缺陷数字图像处理技术射线检测发生变化

分类 [理学][物理]

出版日期 2004年01月11日（中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国工程物理研究院科技年报

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