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存储卡横向测试

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摘要各种存储卡容量越来越大．它们性能如何，让我们一探究竟。

DOI 5jo231mk4v/335684

作者 MattHenry;王润

机构地区不详

出处《科技新时代：下半月》 2005年4期

关键词存储卡横向测试

分类 [一般工业技术][摄影技术]

出版日期 2005年04月14日（中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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科技新时代：下半月

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