椭偏法测量薄膜厚度与折射率实验的若干探讨

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    摘要 作者利用光学实验中的常规仪器完成了椭偏法测量薄膜的厚度与折射率,探讨了减小误差,提高测量精度的措施.文中还对文献[2]中某些易于产生困惑之处做了分析并给出了合理的解释.
    作者 何龙庆
    机构地区 不详
    出处 《南京晓庄学院学报》 2012年6期
    出版日期 2012年06月16日(中国Betway体育网页登陆平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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